El equipo ProvenX-NAP, un espectr\u00f3metro de fotoelectrones de rayos-X, se ha incorporado recientemente al Servicio de Recursos Cient\u00edficos y T\u00e9cnicos (SRCiT) de la Universitat Rovira i Virgili. Esta tecnolog\u00eda permite el an\u00e1lisis superficial de materiales como por ejemplo catalizadores, fibras, monocristales, pol\u00edmeros, sensores de gases y dispositivos electr\u00f3nicos. Es \u00fanico en Catalunya y est\u00e1 disponible para los investigadores de la misma universidad, as\u00ed como para entidades p\u00fablicas y empresas privadas interesadas al obtener informaci\u00f3n cualitativa y cuantitativa sobre las propiedades qu\u00edmicas, f\u00edsicas y electr\u00f3nicas de cualquier superficie s\u00f3lida.<\/p>\n
\u201cEl an\u00e1lisis superficial de materiales es crucial para la investigaci\u00f3n y el desarrollo de nuevos materiales y dispositivos. En comparaci\u00f3n con otras t\u00e9cnicas, como la microscopia, el espectr\u00f3metro de fotoelectrones de rayos-X (XPS-ESCA) ofrece una profundidad de an\u00e1lisis m\u00e1s peque\u00f1o, siendo esta t\u00e9cnica m\u00e1s selectiva a los fen\u00f3menos que tienen lugar en las capas m\u00e1s superficiales de los materiales\u201d, explica el responsable del equipo, Daniel Ruano, seg\u00fan el cual la t\u00e9cnica XPS tambi\u00e9n proporciona informaci\u00f3n sobre la composici\u00f3n cualitativa y cuantitativa de los elementos, as\u00ed como sus estados de oxidaci\u00f3n, reducci\u00f3n y coordinaci\u00f3n, adem\u00e1s del entorno qu\u00edmico. El equipo tambi\u00e9n puede realizar medidas UPS (espectroscopia fotoelectr\u00f3nica ultravioleta) para el estudio de la banda de valencia y los electrones secundarios, especialmente \u00fatiles en el an\u00e1lisis de dispositivos electr\u00f3nicos y materiales semiconductores.<\/p>\n
Una de las particularidades de este nuevo equipo es que puede trabajar en la c\u00e1mara de an\u00e1lisis a presiones pr\u00f3ximas a la atmosf\u00e9rica (NAP-XPS) con gases inertes o reactivos, lo cual no es posible en equipos de XPS convencionales. Adem\u00e1s, puede seguir la evoluci\u00f3n tanto de los elementos de la superficie como de los gases involucrados durante las reacciones qu\u00edmicas que tengan lugar, gracias a un espectr\u00f3metro de masas integrado. Tal y como afirma Ruano, \u201ces un equipo fundamental en el \u00e1mbito de la cat\u00e1lisis heterog\u00e9nea, en que las reacciones qu\u00edmicas tienen lugar en la superficie de un catalizador s\u00f3lido\u201d.<\/p>\n
El \u00e1rea de la superficie de la muestra que se analiza es aproximadamente de 300 micras (una micra es la millon\u00e9sima parte de un metro) de di\u00e1metro, que es el punto de exposici\u00f3n de los rayos X sobre la muestra. La profundidad de penetraci\u00f3n de la fuente de rayos-X monocrom\u00e1tica (\u00b5Focus 600) de aluminio es de aproximadamente 5 nan\u00f3metros (1 nan\u00f3metro equivale a 0,000000001 metros). De todos modos, pr\u00f3ximamente se sustituir\u00e1 la fuente actual por la primera fuente monocrom\u00e1tica dual de aluminio y plata microfoco (\u00b5focus 450) del estado, capaz de penetrar a mayor profundidad en la muestra, obteniendo as\u00ed informaci\u00f3n a profundidades de an\u00e1lisis diferentes.<\/p>\n
\u00abCon este equipo se puede estudiar cualquier proceso que tenga lugar en la superficie de un s\u00f3lido, independientemente de su \u00e1mbito\u201d, resume Ruano. Haberlo podido adquirir ha sido posible gracias a la ayuda del Ministerio de Ciencia, Educaci\u00f3n y Universidades y de la Uni\u00f3n Europea a trav\u00e9s de los Next Generation y en el marco del Plan Estatal de Investigaci\u00f3n Cient\u00edfica y T\u00e9cnica e Innovaci\u00f3n 2017-2020, con un gasto subvencionable de 961.900\u20ac (sin IVA).<\/p>\n